CDR認定について

試験範囲

出題分野、またその割合は日本国内の状況に合わせて多少変化する場合があり、日本版IBHRE検定試験内容を網羅しているものではありません。

大分野 出題割合 中分野 出題割合 小分野 詳細分野
I. 電気生理学および電子工学の基礎 3.0% A. 不整脈と病態生理のメカニズム:インパルスの形成と伝導 3.0%    
B. 不整脈の電気生理学    
C. エレクトロニクス; 感知/刺激/除細動 1. 基本的な単位(アンペア、電荷、クーロン、オーム、ボルト、ヘルツ)  
2. 送出された単位(抵抗、静電容量、バッテリー容量)  
3. 関係(オームの法則、電力、エネルギー)  
4. 波形  
II. 応用科学・技術 32.0% A. パルスジェネレータ 3.5% 1.エネルギー源(バッテリーの化学と理論的根拠)  
2. 電子回路部品; コンデンサー、抵抗器、ダイオード  
3. センサー; モーション/加速度計、MV、インピーダンス(CLS)  
4. ソフトウェア[ファームウェア]  
B. リードと電極材料 6.0% 1. 絶縁材(シリコーン、ウレタン、ハイブリッド)  
2. 導体(同軸、ケーブル、コラディアル)  
3. コネクタ/アダプタ/ IS1、DF-1、DF4、IS-R  
4. 電極(アクティブ、パッシブ、ステロイド溶出、OTW)  
5. ショックコイル、インテグレーテッド vs. トゥルーバイポーラ  
C. センシング 2.5% 1. 心臓信号(EMGs、センシングアンプ、フィルター、スルーレート)  
2. 心臓外信号(筋電位、EMI)  
D. 刺激 3.5% 1. アノード/カソード刺激  
2. 刺激/除細動閾値  
3. オームの法則:電流、電圧、インピーダンス(の計算)  
4. 強度・持続時間; 刺激閾値。 ウェデンスキー効果  
5. 力とエネルギー  
E. タイミングサイクル 6.0% 1. シングルチャンバ  
2. デュアルチャンバ  
3. レートモジュレーション  
4. CRT (両心室)  
5. NBGコード  
F. アルゴリズム 8.0% 1. 徐脈/頻脈ペーシング療法  
2. 頻脈性不整脈の検出  
3. SVT識別  
4. 抗頻脈性不整脈ペーシング  
G. 除細動の概念 1.0%    
H. 生理学的モニター[植込み型](植込み型ループレコーダー、肺圧) 1.5%    
III. 薬理学 1.0% A. 薬物/デバイスの相互作用      
B. 心臓調律と伝導に対する薬物の影響      
IV. 心電図 4.0% A. 心電図   1. ペースドリズム  
B. 不整脈認識      
V. 臨床評価 4.0% A. 履歴      
B. 診断テスト技術   1. 侵襲的  
2. 非侵襲的(心エコー検査を含む)  
3. 基本的な解剖学(バックマンズバンドル、RAA、RVOT、RVセプタム、RVA、CS、心臓静脈、心外膜ペーシングを含む)  
VI. 周術期診療/臨床診療 23.0% A. デバイスの治療と植込み適応 9.0% 1. 徐脈性不整脈  
2. 頻脈性不整脈
3. 慢性うっ血性心不全
4. 失神/ A-Fib(ILR)
5. 主な小児の適応
B.デバイスと機能の選択 3.0% 1. 洞結節機能不全  
2. 房室ブロック
3. 血行動態
4. 頻脈性不整脈のペーシング
C. 外科技術 6.0% 1. 患者への準備(インフォームドコンセント、文書、カルテレビュー)  
2. 植込み a. 術中検査
b. 外科的処置; リード留置
c. 意識下鎮静; IV鎮静、モニタリング要件
d. DFTテスト(はい/いいえ、通常のDFT vs. ULV)
e. 皮下
f. リードレスペースメーカ
3.リード/パルスジェネレータの抜去/摘出  
D. 外科的合併症 3.0% 1. 術中  
2. 術後  
E. 小児ペーシング(先天異常/外科的問題) 1.0%    
F. 終末期の問題(除細動器の無効化、ペーシング療法の中止) 1.0%    
VII. 安全性 3.0% A. 感染対策      
B. 消毒技術
C. 放射線安全対策
D. デバイスのEMI相互作用
VIII. 患者とデバイスのフォローアップ管理 27.0% A. 評価[履歴、手術部位] 1.0%    
B. 診断; ハイレート、モードスイッチ累計、EGM 4.0%    
C. プログラミング(基本レート、上限レート、寿命、RVペースの低下、血行動態) 6.0%    
D. デバイスの評価 10.0% 1. 臨床; 調律療法、レートモジュレーション、血行力学  
2. 技術; キャプチャー/センシングの評価  
3. パルスジェネレータ/リードの自然史; リード劣化、PG寿命ERI、EOL  
4. プログラミング管理  
5. センシング問題(オーバーセンシング、アンダーセンシング、皮下植込み型デバイスを含む)  
6. 刺激の問題; キャプチャー失敗  
E. ペーシングシステムの合併症 4.0%    
F. 遠隔モニタリング 2.0%    
G. ドキュメンテーション; カルテ      
IX. 放射線学 3.0%